船型载具缺陷自动检测设备(Boat)
自动顶针模组检测(Ejector Module)
芯片最终外观检(Package Scanner)
散热盖间隙&平面度检测(Stffener&Lid)
芯片散热盖助焊剂检测(Flux)
散热盖粘合剂自动检测(ASA Dispense)
倒装芯片填充胶检测(Underfill)
芯片倒装位置检测 (Die Position )
自动芯片六面检(Waffle Tray to Waffle Tray)
全自动晶圆光学检测设备Wafer AOI
自动晶圆分选机 Wafer to Tray
OPE设备
清洗机上下料改造设备
E-rack设备
E84改造设备
智能存储系统
Tray盘包装机
晶圆包装机
晶圆自动分选机
自主移动机器人AMR
晶圆高空输送线(OHCV)

设备尺寸:L*W*H 1800*1750*2100mm
设备功能:
•芯片六面缺陷检测
•正面检测项目:基材破损,崩边(长宽尺寸>0.5*0.25mm),污染(基材异色)
•裂纹、划伤(>10μm),异物(>10μm)
•背面检测项目:锡球直径(>50μm)、锡球污染、氧化、损伤、缺失、桥接;背面异物(>10μm)崩边,漏底材
•侧面检测项目:5um DCM内崩边5μm
性能指标:
•效率|efficiency:> 4500 dies/hour for 4寸 Tray
•精度|precision:最小检出精度10μm
技术特点:兼容多种尺寸芯片,专研算法,高速双流道,专利上下料弹夹设计
应用场景:先进封装导体制程贴装前芯片缺陷检查
适用产品:CPU | Memorizer | CCD | CMOS
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