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自动芯片六面检(Waffle Tray to Waffle Tray)

设备尺寸:L*W*H 1800*1750*2100mm

设备功能:

    •芯片六面缺陷检测 

    •正面检测项目:基材破损,崩边(长宽尺寸>0.5*0.25mm),污染(基材异色)

    •裂纹、划伤(>10μm),异物(>10μm)

    •背面检测项目:锡球直径(>50μm)、锡球污染、氧化、损伤、缺失、桥接;背面异物(>10μm)崩边,漏底材

    •侧面检测项目:5um DCM内崩边5μm 

性能指标:

    •效率|efficiency:> 4500 dies/hour for 4寸 Tray

    •精度|precision:最小检出精度10μm

技术特点:兼容多种尺寸芯片,专研算法,高速双流道, 专利上下料弹夹设计

应用场景:先进封装导体制程贴装前芯片缺陷检查

适用产品:CPU | Memorizer | CCD | CMOS

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